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Techniques de l’Ingénieur : AFM-IR : caractérisation chimique à l’échelle nanométrique


Techniques de l'Ingénieur : AFM-IR : caractérisation chimique à l'échelle nanométrique

Alexandre Dazzi et Ariane Deniset-Besseau ont écrit un article pour les bases documentaires Techniques de l’Ingénieur intitulé "AFM-IR : caractérisation chimique à l’échelle nanométrique".

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Résumé

La caractérisation chimique de la matière à l’échelle nanométrique est un enjeu majeur. Cet article présente une technologie innovante, appelée AFM-IR, capable de réaliser des mesures de spectroscopie et d’imagerie infrarouge à l’échelle de quelques nanomètres. Dans un premier temps, le principe de fonctionnement et les développements de cette nouvelle microscopie seront abordés. Puis quelques applications illustrant les capacités de la technique seront présentées pour les domaines les plus significatifs : science des polymères, pharmaceutique, et biologie.